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高生产率测量系统

VIEW 专业生产适合过程控制测量应用的高精度影像三坐标测量系统。我们提供两种系列的高精度测量系统:用于满足广泛的高要求工业应用测量需求的高速度、高精度三 坐标测量系统,以及用于测量半导体和 MEMS 晶片、硬盘磁头滑块和光刻掩膜版的显微测量系统。

为什么选择 VIEW?

  • 高性能影像三坐标测量技术
  • 高精度、高速度和高度灵活的系统
  • 针对您的应用提供整套解决方案
  • 适合近线 (Near-line) 过程控制
  • 我们的应用工程师拥有丰富的微制造测量领域专业经验
  • 技术创新发端于 1979 年
  • 隶属于全球最大的可视测量公司 Quality Vision International 旗下

了解我们的产品系列:系统

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PinnaclePrecisBenchmark 250MicroLine 300

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Phone: 66-084-456-0500
Email: gepp@viewmm.com

 

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