VIEW Micro-Metrology 专业生产适合过程控制测量应用的高精度影像三坐标测量系统。我们提供两种系列的高精度测量系统：用于满足广泛的高要求工业应用测量需求的高速度、高精度三坐标测量系统，以及用于测量半导体和 MEMS 晶片、硬盘磁头滑块和光刻掩膜版的显微测量系统。

为什么选择 VIEW Micro-Metrology？

• 高性能影像三坐标测量技术
• 高精度、高速度和高度灵活的系统
• 针对您的应用提供整套解决方案
• 适合近线 (Near-line) 过程控制
• 我们的应用工程师拥有丰富的微制造测量领域专业经验
• 技术创新发端于 1979 年
• 隶属于全球最大的可视测量公司 Quality Vision International 旗下

了解我们的产品系列：系统

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